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半導體電源芯片高低溫測試流程及選擇?

 更新時間:2022-11-23 點擊量:1085

  芯片在出廠前均需要進行環境測試,模擬芯片在氣候環境下操作及儲存的適應性,已確保其在惡劣環境下也可正常工作。在芯片,半導體等電子設備進行失效分析、可靠性評估等性能測試時,選擇一款合適的半導體電源芯片高低溫測試也尤為重要。

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  無錫冠亞 TES 系列高低溫測試機可提供-85~250 度的測試環境溫度,設備不直接作用于測試物件,而是連接到一個測試平臺適配器上,部件內部通過導熱介質進行加熱和冷卻測試,控制溫度精度保持在±0.3°C。

TES 系列半導體電源芯片高低溫測試均可以和電腦連接,通過組態軟件實現電腦畫面與儀器設備畫面同步,通信距離 200 米以內均可輕松實現溫度設定,實時控制畫面。7 寸彩色大屏幕,溫度曲線記錄,程序選擇及報警畫面記錄等。實現可視化、數據儲存和匯報分析。


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